解决方案
Window to the Nano World
大面积分析能够全面检查整个样品区域内的微裂纹、污染、涂层不均匀性以及颗粒分布等缺陷。与局部观测不同,广域SEM分析有助于识别可能被忽视的缺陷,从而更准确地了解整体样本状况。
其高可重复性和出色的文档化能力,使得大面积分析在研究、质量保证(QA/QC)、缺陷追踪、工艺优化以及各行各业的生产稳定性方面都具有很高的价值。
SEM基于SEM的大面积分析已成为现代工业中质量控制和故障调查的重要工具。SEM 能够通过光学显微镜对难以检测的细颗粒物、表面结构和缺陷进行高分辨率观测,从而更准确地评估粒子起源和形态。
EDS与EDS结合使用后,SEM还可以提供快速的元素分析,用于识别污染物,并追踪过程异常、产品缺陷或异物的来源。Large Area Analysis这些优势使得SEM大面积分析在半导体、电池、汽车、环境以及先进制造应用中得到广泛应用,这些应用对产品的可靠性和工艺稳定性至关重要。
- 样品制备过程
样品首先被稀释并分散在蒸馏水或乙醇等溶剂中,以确保均匀的颗粒物分布,且不产生聚集。将分散的溶液沉积到滤表面。
沉积后,滤网在室温或低温干燥条件下完全干燥,以去除水分,同时尽量减少滤芯变形。干燥的滤网采用碳胶带或银膏,平装在SEM的螺柱上,从边缘开始,以保持表面均匀性。
为提高导电性,Pt or Au coatingSPT-20使用SPT-20等离子溅射涂层来涂覆薄薄的Pt或Au涂层。此制剂可在整个滤芯表面实现稳定的大面积SEM成像和颗粒分布分析。
如有必要,在平面成像或测绘分析中,标记滤网边缘还可以提高位置可重复性。
步骤1 将样品稀释成溶剂,并均匀地分散到滤表面。
步骤2 在室温或低温条件下彻底干燥滤网,以尽量减少变形。
步骤3 使用SPT-20应用Au溅射涂层SPT-20,以确保表面电导率。
步骤4 使用SPT-20应用Au溅射涂层SPT-20,以确保表面电导率。
- 粒子分析(特征)
[微塑料]
微塑料含膜滤镜的颗粒物分析
EM-40PE tabletop SEMCOXEM的EM-40PE桌面SEM针对颗粒分析进行了优化,可实现微塑料形态、尺寸和表面特征的高分辨率观测。此外,EDS analysisEDS分析有助于识别元素成分(如碳、氧及相关元素),有助于追踪塑料类型和污染源。
EM-40PE 采用最少的样品制备和快速分析工作流程,为环境监测和工业污染分析提供了有效解决方案。
- 局域网映射
[Au Target]
Au靶标上细颗粒物的大面积测绘分析
COXEM Large Area Mapping的大面积测绘功能可快速、高分辨率地对45毫米膜滤网等广域区域进行扫描,从而可一目不转睛地评估颗粒分布、密度和形态。
通过自动化全景映射,大尺寸样品区域可无缝拼接成单一集成图像,提高定量分析和过程监测的准确性。这使其成为工业环境中高通量样品检测和污染追踪的有力解决方案。
目标上的细粒度]
[地质资料]
[灰尘]